| 产品特性：非接触式 | 是否进口：否 | 加工定制：否 |
| 品牌：langer | 型号：ICE1 set | 测量范围：5v |
| 测量精度：1 | 产品用途：分析干扰发射情况 |
Langer 集成电路测试环境 ICE1 套件 ,ICE1 Langer 现货
集成电路测试环境 ICE1套 件产品介绍：
利用集成电路（IC）测试系统，通过有针对性地施加骚扰（传导耦合以及电磁场耦合），可以分析电路的特性及其干扰发射情况，下图所示被测IC电路功能测试的试验装置，
Langer 集成电路测试环境 ICE1 套件 ,
集成电路用户通过该测试系统获 取IC的电磁兼容性能参数，可以
1、在IC的开发阶段就考虑电磁兼容性能参数2、根据IC的电磁兼容性能参数，调整布局设计。3、通过比较多种IC的电磁兼容性能参数，为具体应用选择的IC.集成电路生产商可以利用该系统测量IC的EMC参数，并在开发的过程中改善IC的电磁兼容特性：1、通过集成电路的引脚和电磁场测量其EMC参烽。2、查找分析集成电路出现的拨入薄弱点的原因3、有效地开发集成电路的电磁兼容性能。
