| 产品特性：非接触式 | 是否进口：否 | 产地：国外 |
| 加工定制：否 | 品牌：langer | 型号：P603-1 / P750 set |
| 测量范围：1 | 测量精度：1 | 产品用途：用于测量IC引脚的传导发射 |
Langer P603-1 / P750 set, 基于IEC61967-4标准的传导发射测量
该探头套组用于测量IC引脚的传导发射（采用1欧姆/150欧姆直接耦合进行测量）。它基于IEC61967-4标准，分别有一个用于测试电流和电压的探头。该探头能够接触到测试IC的每个引脚。 该探头套组能够确保较高的测量重复精度和测量的可比较性。 使用朗格尔电磁兼容技术公司的ICE1集成电路IC测试环境，可以对待测集成电路进行测试。芯片扫描ChipScan-ESA 软件系统可以控制测量过程，并对所有引脚的测量数据进行存储以及快速系该探头套组用于测量IC引脚的传导发射（采用1欧姆/150欧姆直接耦合进行测量）。它基于IEC61967-4标准，分别有一个用于测试电流和电压的探头。该探头能够接触到测试IC的每个引脚。 该探头套组能够确保较高的测量重复精度和测量的可比较性。 使用朗格尔电磁兼容技术公司的ICE1集成电路IC测试环境，可以对待测集成电路进行测试。芯片扫描ChipScan-ESA 软件系统可以控制测量过程，并对所有引脚的测量数据进行存储以及快速系统地分析比较。统地分析比较。
Langer P603-1 / P750 set, 基于IEC61967-4标准的传导发射测量
