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langer S603/S750 传导发射 测量 基于IEC61967-4标准 求购 库存
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langer S603/S750 传导发射 测量 基于IEC61967-4标准 求购 库存

使用S603/S750进行测量可确保测量的高重复性和可比性。可以使用ChipscanESA软件进行测量

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    广东 深圳 龙岗区 布吉罗岗路景和园
产品特性:非接触式是否进口:否产地:国外
加工定制:否品牌:LANGER型号:S603/S750
测量范围:3G测量精度:1产品用途:直接测量集成高频电流

langer S603/S750 传导发射 测量   基于IEC61967-4标准



S603是1Ω探头,用于直接测量集成电路引脚上的高频电流。测量时,把它接到电源引脚(Vdd/Vss)或信号引脚上。1Ω高频电流表拥有针脚触点,借此可以接触到并对单个的引脚并进行测量。


S750 高频电压表带有150Ω的耦合电路,它根据IEC 61967-4测量集成电路引脚的高频电压。P750探头具备高阻抗的电容耦合输入,因此能够测量受测物上不同引脚的射频电压。


使用S603/S750进行测量可确保测量的高重复性和可比性。可以使用Chipscan ESA软件进行测量。在软件的帮助下保存所有测针的测量结果。它允许系统、快速地比较和分析测量数据。


langer S603/S750 传导发射 测量   基于IEC61967-4标准




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